Метод электронной микроскопии



Электронная микроскопия - не что иное, как собранием методик обследования местного состава и микроструктуры живых объектов, расположенных в микрообъемах, а также на поверхности полей магнитного и электрического вида.

Первоначально метод электронной микроскопии использовался для обследования биологических материалов. При этом для толкования снимков задействовали только адсорбционный контраст. Но создание способа реплик-отпечатков, снятых с поверхности, а также отделка их металлами позволило продвинуться дальше. И его помощью стали проводить исследования неорганические объекты в виде изломов и сколов кристаллов. После были предприняты попытки обследования на просвет тонких фольгированных материалов. ЭМ лучше всего подходит для изучения конфигурации сложносоставных кристаллических объектов.

Методика включает в себя три разные группы. Рассмотрим подробно каждую из них.

Получить бесплатную консультацию врача

Нажимая на кнопку, вы даете согласие на обработку своих персональных данных

Просвечивающая электронная микроскопия

Это классическая и чаще всего используемая разновидность метода. Им проводят изучение структурных погрешностей кристаллов. Как правило, применяется он для получения данных об ориентации недостатков в матрице, морфологических особенностей, а также выяснения их размеров. В ходе проведения метода используют реплики или фольги. Они прозрачны для электронов.

Реплика представляет собой тонкую пленку изучаемого объекта вещества, на которой фиксируют оттиск микрорельефа поверхности. Таким способом можно получать данные о структуре поверхности исследуемого материала.

Фольги – это не что иное, как тонкие пленки, готовящиеся из массивных образцов. При этом подготовка и истончение образца проводят так, чтобы при процедуре он не был поврежден. Тонкий образец располагают на крупной сетке и отправляют в микроскоп.

Метод просвечивающей электронной микроскопии высокоразрешающего типа

Это новая разработка и с ее помощью можно исследовать кристаллическую решетку образца. Во время процедуры выдается изображение ее отдельных плоскостей. Особенность метода – применение специальной новейшей оптики. Процедуру выполняют в сочетании с абсорбционным контрастом.

Растровая электронная микроскопия

Иначе называют метод сканирующей электронной микроскопии. Основывается она на воздействии растровой развертки электронного луча на поверхность исследуемого материала. В итоге образуются ответные сигналы (это могут быть свет, поглощенный ток, электроны поглощенного или вторичного типа и т.п.), а после формируется его изображение.

Одно из достоинств метода - возможность выполнять обследование материала без предварительной подготовки поверхности. При этом совершенно не важно, какой будет толщина образца. В основном используется методика для исследования электрически активных недостатков, топографии поверхности, доменов электрического и магнитного и типа, поверхностных структурных недостатков, определении атомного состава поверхности.

Оцените статью:

Комментарии

Нажимая на кнопку, вы даете согласие на обработку своих персональных данных